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熱烈慶祝“《納米材料電阻率的測量方法》國家標準審定會”勝利召開 --晶格四探針丁海龍總經理應邀以專家代表身份榮譽參加

作者:晶格四探針測試儀 來源:電阻率測試儀源頭廠家 日期:2018/12/10 15:55:08 人氣:3387

【會議概要】

        2018年12月7號,《納米材料電阻率的測量方法》和《納米技術 碳納米管材料粉體電阻率測量方法》國家標準審定會在深圳勝利召開。相關單位領導和專家就兩項標準的送審稿展開熱烈討論,深入交換意見,對標準的最后完善做了卓有成效的工作。 


                                                 國家標委會納米標委會代表組

【主要參會單位】    

         國家標委會納米標委會代表組主持審定會議,參與審定會的還有:

        標準的起草單位:中科院山西煤化所、深圳德方納米科技等;

        檢測院所:無錫國家石墨烯產品質量檢測中心;

        電阻率測試儀廠家:蘇州晶格電子有限公司;

        納米材料生產單位:江蘇河海納米科技股份、江西晶瑞粉體等。

電阻率儀器生產廠家

                                      部分標準的起草單位、納米材料生產單位


【會議內容】  

           審定會第一項,審定了《納米材料電阻率的測量方法》國標送審稿。

        此標準主要由中科院山西煤化所負責起草。

        此標準涵蓋了納米材料導電性能方面多項指標內容和多種技術方法,可測量材料包含納米薄膜、納米粉體,可測量參數有方塊電阻、體電阻率,采用技術原理有四探針法和四端子法

        納標委和與會代表一致認為,此標準作為納米材料導電性能測量標準的系列標準框架來定性審定。本會議一同待審的同類標準《納米技術碳納米管材料 粉體電阻率測量方法》,錨定在此標準框架下協同審定。

        與會代表就標準的相關內容展開熱烈討論和審慎決議。包含技術原理、儀器設備、樣品處理、測量步驟、結果處理等。對標準命名也做了完善修改。

        以下是部分討論決議的精彩內容摘要:

        原標準名稱《納米材料電阻的測量方法》,修改為《導體、半導體納米材料電阻率的測量方法》。

        原標準中“粉末電阻率四探針法”中“彈性四探針法”修改為“固定四探針法”。

 粉末電阻率四探針法

          審定會第二項,審定了《納米技術碳納米管材料粉體電阻率的測量方法》國標送審稿。

       此標準由深圳德方納米科技、深圳市標準技術研究院等負責起草。

       此標準是作為第一個系列框架標準《納米材料電阻率的測量方法》中的細分特列標準來定性的。對應于《納米材料電阻率的測量方法》中納米粉體電阻率測量方法-四探針法。

       與會代表就本標準中技術原理、儀器設備、樣品處理、測量步驟、結果處理等展開熱烈討論和審慎決議。

       由于期間審定的兩個標準具有高度相關性,特別就前后兩個標準的一致性和協調性做了特別的討論。

       在此為期一天的標準審定會中,蘇州晶格電子總經理丁海龍,作為唯 一 一 家電阻率儀器生產廠家代表參加,期間就兩個方法標準的命名規范、技術原理、專業術語的規范性、技術方式實踐可行性、測試結果處理適用性等提出富有專業性和建設性意見,收到標委會代表和標準起草單位、納米材料檢測和生產單位代表高度評價和采納。

納米材料電阻率測試方法

                                                     標準審定會成員單位代表合影

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